達克羅涂層中含有鱗片狀鋅粉和鋁粉，屬于導電涂層。渦流法測厚依據ISO 2360標準，利用高頻交變磁場在導電基材表面感應出渦流，通過阻抗變化推算厚度。但當涂層本身含有金屬粉末時，渦流信號同時受到基材和涂層導電性的影響，測量精度明顯下降。

光熱法依據ISO 2808:2019第5.7節，利用熱波在涂層-基材界面的反射特性推算厚度。金屬粉末的分布對熱波傳播的影響遠小于其對電磁波的影響，因此測厚數據更加穩定。涂魔師Flex在該類應用中表現出以下特點：

·金屬粉末含量范圍: 0至百分之60(體積分數)

·測量偏差: 與破壞性顯微鏡法對比偏差小于±2微米

·適用涂層體系: 達克羅、含鋅涂層、二硫化鉬涂層

·與磁性法相比，光熱法不受涂層導電性變化干擾，簡化了現場操作。

[本文素材轉載自佛山翁開爾]